Clément Ribart, Henry Proudhon
Centre des Matériaux, MINES Paristech, CNRS UMR 7633
La tomographie par contraste de diffraction reste la méthode de caractérisation de la cartographie des grains en 3D la plus rapide et permet d’approfondir la caractérisation d’emplacements de cristallographique spécifique. Couplée à des essais mécaniques in situ, que nous développons depuis quelques années au CDM, elle offre un moyen unique de sonder les mécanismes de déformation et de fracture des matériaux de structure. Des expériences corrélatives à plus haute résolution peuvent maintenant être réalisées pour obtenir une observation « zoomée » dans des grains sélectionnés. Nous passerons en revue plusieurs techniques qui peuvent être utilisées au synchrotron européen, comme la topo-tomographie à rayons X, la 3DXRD ou la microscopie à rayons X. Un exemple pour caractériser la localisation des déformations plastiques dans les métaux sera présenté. La méthode étant de plus en plus automatisée, elle permet des mesures quantitatives et statistiques dans la masse de la microstructure. Enfin, le couplage des expériences avec les calculs par éléments finis de la plasticité cristalline à l’échelle du grain sera discuté comme une clé pour découvrir les mécanismes de déformation de la microstructure.
Contact pour assister à la conférence : Mathieu.Fevre@onera.fr
Jeudi 31 Mars 2022 à 14h00
Salle Contensou, ONERA Châtillon
